测试探针是ICT/FCT测试针、BGA探针、高频探针、高电流探针的统一的叫法，无论什么探针都会有自己的寿命，探针的图册上一般都有自己的寿命，这个主要取决于弹簧的寿命。那么影响测试探针寿命的因素都有哪些呢？这里笔者为大家简要介绍一下，影响测试探针寿命的因素。


　　先说常规ICT/FCT探针，这类探针通常寿命在30万次左右，但是寿命往往都是由测试环境决定的，如果测试环境比较差，各种杂质进入探针内管，就会造成弹簧损坏，这样就必须要更换探针。这种是小部分更换，还有一种是定期对探针进行更换，当使用到一定的时间后，探针就必须要更换。如果是高频探针的话，这个比较特殊，高频探针主要在于高频针的内芯针，所以高频探针更换一般都是将内芯针进行更换，这样可大大降低成本。


　　正常情况下，越细的探针相对来说就越短，所以正常探针的寿命都是接近于厂商给出的理论寿命。对治具维护保养做的好，以及治具测试的板子的清洁度高，按照探针规定的行程进行测试，这样探针的更换频次就低。